1、平衡条件

(1) 明确转子为刚性转子

(2) 明确转子存有不平衡故障不平衡属于低频故障， 当5Hz～1KHz的通频振动（偏移峰峰值或速度有效值）较标准值有明显扩大时， 表明机器有低频类故障在发展。 欲进一步明确其是不是为不平衡故障，需开展频谱分析。不平衡故障表现在转子径向转频上的振幅扩大，而在轴向和别的倍频分量上振幅扩大相对不明显。 若轴向或别的倍频分量上的振幅与径向转频处的振幅一起明显扩大， 乃至扩大速率超出径向转频处的振动幅值的扩大速率，则应考虑弯曲、不对中或松动等别的故障。

2、平衡打算

(1) 明确转子的平衡种类和平衡方式依据转子直径与其长度的关系明确其需做单面平衡或双面平衡， 并决定应用试重法或影响系数法对其进行动平衡。 若应用影响系数法须事先从上位 PC机中下载该转子的影响系数，或记录下该转子的影响系数，以便需用时手动输入。

(2) 选择测点位置根据转子的平衡类型在该转子设备上选择相应的测量平面和测点位置， 以便安置振动传感器。 测量平面应选在转子的轴承座或附近刚性较高、 较为平坦的金属表面上。 测点应布置在测量平面内径向振动量最大位置或规定位置上，一般选择转子两边轴承座为测量平面， 测点以水平方向为好。 单面平衡只需安置一个测点，双面平衡需安置两个测点。测点位置需做上标记，以便以后测量。

(3) 挑选校正面和加试重位置若应用试重法， 充分考虑转子的构造特性， 挑选转子上便捷安装试探质量和校正质量的平面作为校正面。 以相同的标准在校正面上挑选以转轴为圆心、 Rc为半径的校正圆。 在校正圆上搞好试重位置标识。 校正半径应尽可能大， 以提升角度定位精度，减少试探质量。 单面平衡只需在1个平面内进行校正， 挑选1个试重位置即可。双面平衡需要2个平面上进行校正，应以两个校正面中间的间距尽大，2个试重位置角度相距 0o。若应用影响系数法， 则规定仍选用获得该影响系数时的测量标准：同样的负载、转速，同样的振动和转速测量位置，同样的反光条粘贴位置，且能辨认出获得该系数时的试重位置。故所述第（ 2）、（3）步和以下第（6）步均可省略。

(4) 粘贴反光条在转轴或转子表层上， 沿与转子轴线平行的方位粘贴反光条。 需确保反光条附近有必须的空间可安装用于固定转速传感器的工具， 且反光条与转轴柱面的反光性能有足够的反差。

(5) 确定转速传感器转速传感器需安装在磁性表座上随后将表座吸咐在一刚性金属表面， 使传感器传出的激光束切割反光条根据的位置上。 转速传感器安装平稳是否立即影响相位精密度。

(6) 挑选试探质量试探质量用于临时更改一下转子的质量分布， 便于找到试探质量与转子振动之间的关系。试探质量过大，设备有将会达没到设定转速；试探质量过小，则振动变化不明显， 使测量结果不精确。 留意积累经验尽可能于恰当挑选试探质量。 单面平衡用一块试探质量即可。 双面平衡可应用二块不一样的试探质量， 也可应用同一块试探质量。试探质量的挑选可参考以下公式：

 

式中： Mt------ 试探质量， Kg 

       M------- 转子质量， Kg

       n------- 平衡转速， r/min 

       D 0------- 原始振幅， μm 

       r-------- 转子半径， m 

3、单面试重法平衡流程弄完平衡准备工作后，单面试重法平衡流程如下：

(1) 将振动传感器吸咐在选定的测点上， 转速传感器确定在正对反光条根据的位置上。

(2) 将振动传感器和转速传感器连接到动平衡仪上，留意理顺导线，避免被绞进转子；开启动平衡仪。

(3) 启动设备至设定转速，平稳后测定并储存原始振动烈度和相位。

(4) 停止设备，把选中的试探质量安置在选定的试重部位上，并在仪器中输入所加试重的质量。

(5) 重启设备，平稳后测量并储存加试重后的振动烈度和相位。

(6) 用仪器开展平衡结算获得需要安置的校正质量大小和位置角度。

(7) 停止设备转动，去除试探质量。将解计算的校正质量安置在校正圆上校正角度选定的位置。 若因为转子构造问题， 此位置不能安置校正质量， 则可执行现场动平衡仪的矢量分解功能。 将此校正质量转化成2个分量， 安置到2个便捷安置的部位上。 校正质量的安置角度由试探质量所在位置起沿转子转动方向度量。若不愿去出试探质量，还可以将其做为1个矢量分量（角度为零度），计算另外矢量分量， 使两者合成结果等效于校正质量， 随后按计算的分量的大小和)3000n(4 ~ 8) r (2M D0M t角度安置在转子上。

(8) 再一次启动设备，稳定后测定并储存剩下振动烈度，将其与原始振动烈度比较，检查平衡效果怎样及是不是符合规定。 若剩下振动烈度仍过大， 则再次进行平衡解算，算出第二次平衡要用的校正质量尺寸和位置角度。

(9) 停止设备转动，将第二次平衡解计算的校正质量安置到校正面上。

(10) 再一次启动设备，平稳后测定并储存两次平衡后的剩下振动烈度。

(11) 关掉设备，将此次储存的平衡数据发送至上位机中。

4、单面影响系数法平衡

做好平衡准备工作后，单面影响系数法平衡流程如下：

(1) 检查原转速反光条是不是仍存有。若找不到，且原位置没法分辨，则该影响系数失效，需改成试重法。若反光条反光性能降低，必须拆换反光条，且要确保与原位置相同。

 (2) 将振动传感器吸附在旧的测量点标识上， 转速传感器确定在正对反光条根据的位置上。

 (3) 将振动传感器和转速传感器连接到动平衡仪上， 注意理顺导线， 避免被绞进转子；启用现场动平衡仪。

 (4) 启动设备至设置转速，平稳后测量并储存原始振动烈度和相位。

 (5) 手动输入影响系数或应用下载的影响系数开展平衡解算， 获得要用的校正质量尺寸和位置角度。

 (6) 停止设备旋转，将解计算的校正质量安置在校正圆上校正角度特定的位置。若因为转子构造问题， 此位置不能安置校正质量， 则可执行现场动平衡仪的矢量分解功能。将此校正质量转化成两个分量，安置到2个便捷安置的部位上。校正质量的安置角度由试探质量所在位置起沿转子旋转方向度量。

 (7) 再一次启动设备， 平稳后测定并储存剩下振动烈度， 将其与原始振动烈度比较，检查平衡作用怎样及是不是符合规定。 若剩下振动烈度仍过大， 则再次开展平衡解算，算出第二次平衡要用的校正质量尺寸和位置角度。

 (8) 停止设备旋转，将两次平衡解计算的校正质量安置到校正面上。

 (9) 再一次启动设备，平稳后测量并储存两次平衡后的剩余振动烈度。

 (10) 关掉设备，将此次储存的平衡数据发送至上位机中。

5、双面试重法平衡流程

  双面试重法平衡流程与单面试重法平衡相近， 可是务必在2个平面内测量振动，并在2个平面上开展校正。双面试重法平衡流程如下（见图 2-1）：

(1) 将振动传感器吸咐在选定的测点 A平面上。

(2) 转速传感器确定在正对反光条通过的部位上。

(3) 将振动传感器和转速传感器连接到动平衡仪上，注意理顺导线，避免被绞进转子；开启现场动平衡仪。

(4) 启动设备至设置转速，平稳后测量并储存测量点 A平面处的原始振动烈度和相位。

(5) 将振动传感器移到选中的测点 B平面处，平稳后测定并储存测点 B平面处

 

 

图 2-1 双面转子平衡

 

的原始振动烈度和相位。

(6) 停止设备旋转， 将选中的试探质量 1安置在选定的校正平面 1内的试重位置标识处。在仪器中输入所加试探质量 1的质量值。

(7) 将振动传感器移到测量点 A平面处，重启设备至设置转速，平稳后测定并储存加试探质量 1后测点 A平面处的振动烈度和相位。

(8) 将振动传感器移到测点 B平面处，稳定后测量并存储加试探质量 1后测点B平面处的振动烈度和相位。

(9) 停止设备旋转， 去除校正平面 1内的试探质量 1。将选中的试探质量 2（能够依然应用试探质量 1）安置在选定的校正平面 2内的试重位置标识处。 在仪器中输入所加试探质量 2的质量值。

(10) 将振动传感器移到测点 A平面处，再一次启动设备至设置转速，平稳后测量并储存加试探质量 2后测点 A平面处的振动烈度和相位

(11) 将振动传感器移到测点 B平面处，平稳后测量并储存加试探质量 2后测点B平面处的振动烈度和相位。

(12) 用仪器开展平衡结算获得需要安置的校正质量 1的尺寸、角度和校正质量2的尺寸、角度。

(13) 停止设备旋转，去除试探质量 2。将解计算的校正质量 1安置在校正面 1上，校正质量 2安置在校正面 2上，每个校正质量的安置半径与其校正面上的试探

质量安置半径相同， 安置角度由其校正面上的试探质量所在位置起沿转子旋转方向度量。在任意校正面上，若因为转子构造问题，此位置不能安置校正质量，则可执行现场动平衡仪的矢量分解功能。将该校正面上的校正质量转化成2个分量，安置到2个便捷安置的部位上。

(14) 将振动传感器移到测点 A平面处，重新启动设备，平稳后测量并储存测点A平面处的剩下振动烈度和相位。

(15) 将振动传感器移到测点 B平面处，平稳后测量并储存测点 B平面处的剩下振动烈度和相位。

(16) 将测点 A、B平面处的剩下振动烈度与原始振动烈度比较，检查平衡作用怎样及是不是符合规定。 若剩下振动烈度仍过大， 则继续开展平衡解算， 算出两次平衡要用的校正质量尺寸和位置角度。

(17) 停止设备转动，将两次平衡解计算的2个校正质量各自安置到2个校正面上。

(18) 将振动传感器移到测量点 A平面处，重新启动设备，平稳后测量并储存测点A平面处两次平衡后的剩余振动烈度和相位。

(19) 将振动传感器移到测点 B平面处，稳定后测量并存储测点 B平面处第二次平衡后的剩余振动烈度和相位。

(20) 关闭机器，将本次存储的平衡数据发送至上位机中。

6、双面影响系数法平衡步骤双面影响系数法平衡步骤如下：

(1) 检查原转速反光条是否仍存在。若不存在，且原位置无法辨认，则该影响系数失效，需改用试重法。若反光条反光性能下降，需要更换反光条，且要保证与原位置重合。

(2) 将振动传感器吸附在旧的测点 A平面处，转速传感器固定在对着反光条通过的位置上。

(3) 将振动传感器和转速传感器连接到动平衡仪上，注意理顺导线，防止被绞进转子；开启动平衡仪。

(4) 启动机器至设定转速，稳定后测量并存储测点 A平面处的初始振动烈度和相位。

(5) 将振动传感器移到旧的测点 B平面处，稳定后测量并存储测点 B平面处的振动烈度和相位。

(6) 手动输入影响系数或使用下载的影响系数进行平衡解算， 得出校正质量1的大小、角度和校正质量 2的大小、角度。

(7) 停止机器转动，将平衡解算出的校正质量 1安置在校正面 1上，校正质量2安置在校正面 2上，每一校正质量的安置半径与其校正面上的试探质量安置半径相同，安置角度由其校正面上的试探质量所在位置起沿转子转动方向度量。 在任一校正面上， 若由于转子结构问题， 此位置不可安置校正质量， 则可执行现场动平衡仪的矢量分解功能。 将该校正面上的校正质量分解成两个分量， 安置到两个方便安置的位置上。

(8) 将振动传感器移到测点 A平面处，重新启动机器至设定转速，稳定后测量并存储测点 A平面处的剩余振动烈度和相位。

(9) 将振动传感器移到测点 B平面处，稳定后测量并存储测点 B平面处的剩余振动烈度和相位。

(10) 将测点 A、B平面处的剩余振动烈度与初始振动烈度比较，检查平衡效果如何及是否符合要求。 若剩余振动烈度仍较大， 则继续进行平衡解算， 得出第二次平衡需用的校正质量大小和位置角度。

(11) 停止机器转动，将第二次平衡解算出的两个校正质量分别安置到两个校正面上。

(12) 将振动传感器移到测点 A平面处，重新启动机器，稳定后测量并存储测点A平面处第二次平衡后的剩余振动烈度和相位。

(13) 将振动传感器移到测点 B平面处，稳定后测量并存储测点 B平面处第二次平衡后的剩余振动烈度和相位。

(14) 关闭机器，将本次存储的平衡数据发送至上位机中。